TS EN 61000-6-2 / IEC 61000-6-2 & TS EN 61000-6-4 / IEC 61000-6-4 Standardı
ELEKTROMANYETİK UYUMLULUK (EMC) - GENEL STANDARDLAR-ENDÜSTRİYEL ÇEVRELER İÇİN BÖLÜM 6-2: BAĞIŞIKLIK STANDARDI - BÖLÜM 6-4: EMİSYON STANDARDI
TS EN 61000-6-2 ve TS EN 61000-6-4 standardları, Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) ürün standartlarındandır. Endüstriyel ortamlar için IEC 61000 standardının 2. Bölümü (61000-6-2) EMC bağışıklılık deneyleri (EMC Testi) ve 4. Bölümü (61000-6-4) EMC emisyon deneyleri (EMC Testi) hakkındadır.
TS EN 61000-6-2 ve TS EN 61000-6-4 standardları, imalat tesislerini veya fabrikaları besleyen bir yapıya güç kaynağı olarak tahsis edilmiş bir cihaz veya endüstriyel ortamlar için genel Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) özelliklerini kapsar. Bu standard ayrıca batarya ile çalışan ve endüstriyel çevrelerde kullanılması amaçlanan cihazları da kapsar.
TS EN 61000-6-2 ve TS EN 61000-6-4 standardlarının amacı, endüstriyel ortamlar için Elektrostatik Boşalma Deneyi (ESD) dahil olmak üzere sürekli ve geçici olarak, ilişkili cihazlar için elektromanyetik uyumluluk (EMC) genel özellikleri ve deneyleri (EMC Testi) belirtmektir.
Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) Deneyleri:
Elektromanyetik Uyumluluk deneyleri (EMC Testi) herhangi bir elektrikli ve elektronik cihazın veya sistemin, ortamdaki diğer cihaz veya sistemlerden etkilenmeden ve bunları etkilemeden çalışmasının kontrol edildiği testlerdir. EMC Testleri genel olarak, bağışıklık ve emisyon olmak üzere 2 genel kategoride incelenir.
TS EN 61000-6-4 standardında belirtilen Emisyon EMC Testleri;
- Işınım Yoluyla Yayılım (Radiated Emission) Testi - Cispr 11 / TS EN 55011
- İletim Yoluyla Yayılım (Conducted Emission) Testi - Cispr 11 / TS EN 55011
- Harmonikler (Harmonics) Testi - TS EN 61000-3-2
- Gerilim Dalgalanmaları ve Kırpışma (Flicker) Testi - TS EN 61000-3-3
TS EN 61000-6-2 standardında belirtilen Bağışıklık EMC Testleri;
- Elektrostatik Boşalma (Electrostatic Discharge (ESD)) Testi - TS EN 61000-4-2
- Işıyan, RF, Elektromanyetik Alan (Radiated Immunity) Testi - TS EN 61000-4-3
- Elektriksel Hızlı Geçici Rejim / Ani Darbe (Electrical Fast Transients / Burst) Testi - TS EN 61000-4-4
- Ani Yükselmeler (Surge) Testi - TS EN 61000-4-5
- RF Alanlar Tarafından İletilen Bozulmalar (Conducted Immunity) Testi - TS EN 61000-4-6
- Şebeke Frekansındaki Manyetik Bozulmalar (Magnetics) Testi - TS EN 61000-4-8
- Gerilim Çukurları ve Kısa Kesintiler (Voltage Dips and Interruptions) Testi - TS EN 61000-4-11
Bağışıklık Deney Seviyeleri
Ortak Güç Girişler için;
|
EMC Testi |
Bağışıklık Deney Seviyesi |
Performans Kriteri |
|
ESD (Elektrostatik Boşalma) 61000-4-2 |
Temasla: ±4 kV Hava yoluyla: ±8 kV |
B |
|
Radiated Immunity (Işıyan, RF, Elektromanyetik Alan) 61000-4-3 |
10 V/m 80 MHz – 1 GHz 3 V/m 1,4 GHz – 6 GHz %80 AM – 1 kHz |
A |
|
Magnetic Fields (Şebeke Frekansındaki Manyetik Bozulmalar) 61000-4-8 |
30 A/m 50-60 Hz |
A |
|
*Cihazın yapısı ve kullanım alanına göre değişiklik gösterir. |
||
AC Güç Girişler için;
|
EMC Testi |
Bağışıklık Deney Seviyesi |
Performans Kriteri |
|
|
Burst (Elektriksel Hızlı Geçici Rejim / Ani Darbe) 61000-4-4 |
±2 kV 5 kHz veya 100 kHz |
B |
|
|
Surge (Ani Yükselmeler) 61000-4-5 |
±1 kV Line to Line ±2 kV Line to Ground |
B |
|
|
Conducted Immunity (RF Alanlar Tarafından İletilen Bozulmalar) 61000-4-6 |
10 V/m 0,15 MHz – 80 MHz %80 AM – 1 kHz |
A |
|
|
Voltage dips - Interruptions (Gerilim Çukurları ve Kısa Kesintiler) 61000-4-11 |
%0 UT=1 çevrim %40 UT=10/12 çevrim %70 UT=25/30 çevrim |
%0 UT=250/300çevrim |
B-C |
|
|
|
|
|
DC Güç Girişler için;
|
EMC Testi |
Bağışıklık Deney Seviyesi |
Performans Kriteri |
|
Burst (Elektriksel Hızlı Geçici Rejim / Ani Darbe) 61000-4-4 |
±1 kV 5 kHz veya 100 kHz |
B |
|
Surge (Ani Yükselmeler) 61000-4-5 |
±0,5 kV Line to Line ±1 kV Line to Ground |
B |
|
Conducted Immunity (RF Alanlar Tarafından İletilen Bozulmalar) 61000-4-6 |
10 V/m 0,15 MHz – 80 MHz %80 AM – 1 kHz |
A |
Performans Kriterleri
Performans Kriteri A: Testi gerçekleştirilen cihaz, deney esnasında ve sonrasında hedeflendiği gibi, operatör müdahalesi olmadan çalışmaya devam etmelidir. Cihazın performansında herhangi bir azalmaya veya fonksiyon kaybına izin verilmez.
Performans Kriteri B: Testi gerçekleştirilen cihaz, deney sonrasında hedeflendiği gibi, operatör müdahalesi olmadan çalışmaya devam etmelidir. Cihaz, üretici tarafından belirtilen bir performans seviyesinin altında herhangi bir azalmaya ve fonksiyon kaybına izin verilmez. Ancak deney esnasında performans seviyesinde azalmaya izin verilir.
Performans Kriteri C: Testi gerçekleştirilen cihazın, test esnasında ve sonrasında, geçici bir fonksiyon kaybına izin verilir. Ancak sağlanan fonksiyon kontrol işlemi ile kendi kendine toparlanabilir veya düzeltilebilir olmalıdır.