TS EN 61204-3 / IEC 61204-3 Standardı
ALÇAK GERİLİM ANAHTARLAMALI GÜÇ KAYNAKLARI - BÖLÜM 3: ELEKTROMANYETİK UYUMLULUK
TS EN 61204-3 standardı Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) ürün standartlarından biridir. Alçak gerilim anahtarlamalı güç kaynakları üreticileri, ürünlerini TS EN 61204-3 standardına göre tasarlar ve test (EMC Testi) ettirirler.
TS EN 61204-3 standardı alçak gerilim anahtarlamalı güç kaynakları, cihazlar ve sistemler için temel güvenlik ve gerekli performans için genel EMC özelliklerini kapsar.
TS EN 61204-3 standardının amacı, alçak gerilim anahtarlamalı güç kaynaklarının elektromanyetik uyumluluğu (EMC) için genel özellikleri ve deneyleri (EMC Testi) belirtmektir.
Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) Deneyleri:
Elektromanyetik Uyumluluk deneyleri (EMC Testi) herhangi bir elektrikli ve elektronik cihazın veya sistemin, ortamdaki diğer cihaz veya sistemlerden etkilenmeden ve bunları etkilemeden çalışmasının kontrol edildiği testlerdir. EMC Testleri genel olarak, bağışıklık ve emisyon olmak üzere 2 genel kategoride incelenir.
TS EN 61204-3 standardında belirtilen Emisyon EMC Testleri;
- Işınım Yoluyla Yayılım (Radiated Emission) Testi - Cispr 11 / TS EN 55011
- İletim Yoluyla Yayılım (Conducted Emission) Testi - Cispr 11 / TS EN 55011
- Harmonikler (Harmonics) Testi - TS EN 61000-3-2
- Gerilim Dalgalanmaları ve Kırpışma (Flicker) Testi - TS EN 61000-3-3
TS EN 60601-1-2 standardında belirtilen Bağışıklık EMC Testleri;
- Elektrostatik Boşalma (Electrostatic Discharge (ESD)) Testi - TS EN 61000-4-2
- Işıyan, RF, Elektromanyetik Alan (Radiated Immunity) Testi - TS EN 61000-4-3
- Elektriksel Hızlı Geçici Rejim / Ani Darbe (Electrical Fast Transients / Burst) Testi - TS EN 61000-4-4
- Ani Yükselmeler (Surge) Testi - TS EN 61000-4-5
- RF Alanlar Tarafından İletilen Bozulmalar (Conducted Immunity) Testi - TS EN 61000-4-6
- Şebeke Frekansındaki Manyetik Bozulmalar (Magnetics) Testi - TS EN 61000-4-8
- Gerilim Çukurları ve Kısa Kesintiler (Voltage Dips and Interruptions) Testi - TS EN 61000-4-11
TS EN 61204-3 standardına göre cihazlar 2 kategoride incelenir. Bunlardan ilki yerleşim yerleri, ticari ve hafif sanayi ortamlar; ikincisi ise endüstriyel (sanayi) ortamlardır. Uygulanacak olan deney seviyeleri ortamlara göre değişiklik gösterebilmektedir.
Bağışıklık Deney Seviyeleri
Ortak Güç Girişler için;
|
EMC Testi |
Bağışıklık Deney Seviyesi |
|||
|
Yerleşim yerleri, ticari, hafif sanayi |
P.K |
Endüstriyel |
P.K. |
|
|
ESD (Elektrostatik Boşalma) 61000-4-2 |
Temasla: ±4 kV Hava yoluyla: ±8 kV |
B |
Temasla: ±4 kV Hava yoluyla: ±8 kV |
B |
|
Radiated Immunity (Işıyan, RF, Elektromanyetik Alan) 61000-4-3 |
3 V/m 80 MHz – 1 GHz 3 V/m 1,4 GHz – 2 GHz 1 V/m 2 GHz – 2,7 GHz AM – 1 kHz |
A |
10 V/m 80 MHz – 1 GHz 3 V/m 1,4 GHz – 2 GHz 1 V/m 2 GHz – 2,7 GHz AM – 1 kHz |
A |
|
Magnetic Fields (Şebeke Frekansındaki Manyetik Bozulmalar) 61000-4-8 |
3 A/m 50-60 Hz |
A |
30 A/m 50-60 Hz |
A |
|
P.K. : Performans Kriteri |
||||
AC Güç Girişler için;
|
EMC Testi |
Bağışıklık Deney Seviyesi |
|||||
|
Yerleşim yerleri, ticari, hafif sanayi |
P.K |
Endüstriyel |
P.K. |
|||
|
Burst (Elektriksel Hızlı Geçici Rejim / Ani Darbe) 61000-4-4 |
±1 kV 100 kHz |
B |
±2 kV 100 kHz |
B |
||
|
Surge (Ani Yükselmeler) 61000-4-5 |
±1 kV Line to Line ±2 kV Line to Ground |
B |
±1 kV Line to Line ±2 kV Line to Ground |
B |
||
|
Conducted Immunity (RF Alanlar Tarafından İletilen Bozulmalar) 61000-4-6 |
3 V/m 0,15 MHz – 80 MHz %80 AM – 1 kHz |
A |
10 V/m 0,15 MHz – 80 MHz %80 AM – 1 kHz |
A |
||
|
Voltage dips - Interruptions (Gerilim Çukurları ve Kısa Kesintiler) 61000-4-11 |
%0 UT=0,5 çevrim %0 UT=1 çevrim %70 UT=25 çevrim |
%0 UT= 250çevrim |
B C |
%0 UT=0,5 çev. %0 UT=1 çev. %40 UT=10 çev. %70 UT=25 çev. %80 UT=250çev |
%0 UT= 250çev. |
B C |
|
P.K. : Performans Kriteri |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
DC Güç Girişler için;
|
EMC Testi |
Bağışıklık Deney Seviyesi |
|||
|
Yerleşim yerleri, ticari, hafif sanayi |
P.K |
Endüstriyel |
P.K. |
|
|
Burst (Elektriksel Hızlı Geçici Rejim / Ani Darbe) 61000-4-4 |
±0,5 kV 100 kHz |
B |
±2 kV 100 kHz |
B |
|
Surge (Ani Yükselmeler) 61000-4-5 |
±0,5 kV Line to Line ±0,5 kV Line to Ground |
B |
±0,5 kV Line to Line ±0,5 kV Line to Ground |
B |
|
Conducted Immunity (RF Alanlar Tarafından İletilen Bozulmalar) 61000-4-6 |
3 V/m 0,15 MHz – 80 MHz %80 AM – 1 kHz |
A |
10 V/m 0,15 MHz – 80 MHz %80 AM – 1 kHz |
A |
|
P.K. : Performans Kriteri |
||||
Performans Kriterleri
Performans Kriteri A: Test esnasında ve sonrasında fonksiyon veya performans kaybına izin verilmez.
Performans Kriteri B: Test sırasında geçici fonksiyon veya performans kaybına izin verilir. Ancak cihazın performansını veya fonksiyonunu kendi kendine geri kazanması beklenir.
Performans Kriteri C: Testi gerçekleştirilen cihazın, test esnasında ve sonrasında, geçici bir fonksiyon kaybına izin verilir. Fonksiyonun, kendi kendine iyileşebilmesi veya kontrollerin çalışması sonucu düzeltilebilmesi koşuluyla geçici fonksiyon kaybına izin verilir.