TS EN 61000-4-11 / IEC 61000-4-11 Standardı
ELEKTROMANYETİK UYUMLULUK (EMC)- BÖLÜM 4-11: DENEY VE ÖLÇME
TEKNİKLERİ - GERİLİM ÇUKURLARI, KISA KESİNTİLER VE GERİLİM DEĞİŞMELERİ İLE İLGİLİ BAĞIŞIKLIK DENEYİ
EMC Testi, bir cihazın veya sistemin elektromanyetik uygunluğunun kontrol edildiği testlerdir. Elektromanyetik Uyumluluk Testinde (EMC Testi), herhangi bir elektrikli ve elektronik cihazın veya sistemin, ortamdaki diğer cihaz veya sistemlerden etkilenmeden ve bunları etkilemeden çalışması hedeflenir. EMC Testi, genel olarak Bağışıklık EMC Testi ve Emisyon EMC Testi olarak iki kategoride incelenir. EMC Testi uygulamalarında kullanılan standartlarda belirtilen test limit değerleri ve test yöntemleri, cihaz veya sistemin özelliklerine göre değişiklik gösterebilmektedir.
TS EN 61000-4-11 / IEC 61000-4-11 standardında belirtilen Gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmeleri ile ilgili bağışıklık deneyi, Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) bağışıklık deneylerinden (EMC Testi) biridir.
TS EN 61000-4-11 / IEC 61000-4-11 standardı alçak gerilim güç kaynağı şebekelerine bağlanan elektrikli ve elektronik cihazlar için gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmeleri ile ilgili elektromanyetik uyumluluk (EMC) bağışıklık deney metotlarını ve tercih edilen deney seviyeleri grubunu kapsar.
TS EN 61000-4-11 / IEC 61000-4-11 standardının amacı, gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmelerine maruz kalan elektrikli ve elektronik cihazların çalışma niteliklerinin değerlendirilmesi için ortak ve tekrar edilebilir bir esas oluşturmaktır.
Gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmeleri (Voltage dips, short interruptions and voltage variations) ile ilgili bağışıklık deneyi:
Gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmeleri (Voltage dips, short interruptions and voltage variations) ile ilgili bağışıklık deneyi, 50 Hz veya 60 Hz AC şebekelerinde yapılan bağlantılar için faz başına 16 A’i geçmeyen beyan giriş akımına sahip elektrikli ve elektronik cihazlara uygulanır.
Elektrikli ve elektronik cihazlar, güç kaynağındaki gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmelerinden etkilenebilir. Gerilim çukurları ve kısa kesintiler, şebekedeki arızalardan ve montajlardaki arızalardan veya yükteki ani değişimlerden kaynaklanabilir. Bazen üst üste birden fazla çukur veya kesinti oluşabilir. Gerilim değişmeleri, şebekeye bağlı sürekli değişen yüklerden kaynaklanabilir.
Elektromanyetik Uyumluluk Deneylerinden (EMC Testi) olan Gerilim çukurları, kısa kesintiler ve gerilim değişmeleri testinin deney seviyeleri şu şekildedir;
|
Sınıf |
Gerilim Çukurları (50Hz/60Hz) |
||||
|
Sınıf 1 |
Cihaz özelliklerine göre farklı durumlar için |
||||
|
Sınıf 2 |
0,5 çevrim %0 |
1 çevrim %0 |
25/30 çevrim %70 |
||
|
Sınıf 3 |
0,5 çevrim %0 |
1 çevrim %0 |
10/12 çevrim %40 |
25/30 çevrim %70 |
250/300 çevrim %80 |
|
Sınıf x |
x |
x |
x |
x |
x |
|
“x” mamul komitesi tarafınca tarif edilir. Şehir şebekesine bağlanan cihazlar için seviye Sınıf 2’den daha düşük olmamalıdır. |
|||||
|
Sınıf |
Kısa Kesintiler (50Hz/60Hz) |
|
Sınıf 1 |
Cihaz özelliklerine göre farklı durumlar için |
|
Sınıf 2 |
250/300 çevrim %0 |
|
Sınıf 3 |
250/300 çevrim %0 |
|
Sınıf x |
x |
|
“x” mamul komitesi tarafınca tarif edilir. Şehir şebekesine bağlanan cihazlar için seviye Sınıf 2’den daha düşük olmamalıdır. |
|
|
Gerilim Değişimleri (50Hz/60Hz) |
|||
|
Gerilim Deney Seviyesi |
Azalan gerilim süresi |
Düşürülmüş gerilim süresi |
Artan gerilim süresi |
|
%70 |
Ani |
1 çevrim |
25/30 çevrim |
|
x |
x |
x |
x |
|
“x” mamul komitesi tarafınca tarif edilir. |
|||
Gerilim çukurları ve kısa kesintilerde, UT ile değişen gerilim anidir. % 0, % 40, %70 ve % 80’lik artık gerilimle çukurlara tekabül eden deney gerilimi seviyeleri % UT cinsinden kullanılır.
Gerilim değişimlerinde ise, UT beyan gerilimi ile değişen gerilim arasında tanımlanmış bir geçişi göz önüne alır. Gerilim değişmesi kısa bir süre boyunca ortaya çıkar ve yük değişmesi sebebiyle meydana gelebilir.