TS EN 55024 / IEC CISPR 24 (Edition 2.0) ve TS EN 55032 / IEC CISPR 32 (Edition 2.1)Standardı
55024: BİLGİ TEKNOLOJİSİ CİHAZLARI – BAĞIŞIKLIK KARAKTERİSTİKLERİ – ÖLÇME METOTLARI ve SINIRLARI
55032: MULTİMEDYA DONANIMLARIN ELEKTROMANYETİK UYUMLULUĞU (EMC) – YAYINIM KURALLARI
TS EN 55024 ve TS EN 55032 standartları, Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) ürün standartlarından biridir. Bilgi teknolojisi cihaz üreticileri, ürünlerini TS EN 55024 ve TS EN 55032 standartlarına göre tasarlar ve test (EMC Testi) ettirirler.
TS EN 55024 standardı, bilgi teknolojisi cihaz ve sistemler için temel EMC bağışıklık ölçme ve yöntemleri; TS EN 55032 standardı ise bu donanımlar için emisyon kurallarını kapsar.
TS EN 55024 ve TS EN 55032 standartlarının amacı, Elektrostatik Boşalma Deneyi (ESD) dahil olmak üzere sürekli ve geçici olarak, bilgi teknolojisi cihazlarının elektromanyetik uyumluluğu (EMC) için genel özellikleri ve deneyleri (EMC Testi) belirtmektir.
Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) Deneyleri:
Elektromanyetik Uyumluluk deneyleri (EMC Testi) herhangi bir elektrikli ve elektronik cihazın veya sistemin, ortamdaki diğer cihaz veya sistemlerden etkilenmeden ve bunları etkilemeden çalışmasının kontrol edildiği testlerdir. EMC Testleri genel olarak, bağışıklık ve emisyon olmak üzere 2 genel kategoride incelenir.
TS EN 55032 standardında belirtilen Emisyon EMC Testleri;
- Işınım Yoluyla Yayılım (Radiated Emission) Testi - TS EN 55032
- İletim Yoluyla Yayılım (Conducted Emission) Testi - TS EN 55032
- Harmonikler (Harmonics) Testi - TS EN 61000-3-2
- Gerilim Dalgalanmaları ve Kırpışma (Flicker) Testi - TS EN 61000-3-3
TS EN 55024 standardında belirtilen Bağışıklık EMC Testleri;
- Elektrostatik Boşalma (Electrostatic Discharge (ESD)) Testi - TS EN 61000-4-2
- Işıyan, RF, Elektromanyetik Alan (Radiated Immunity) Testi - TS EN 61000-4-3
- Elektriksel Hızlı Geçici Rejim / Ani Darbe (Electrical Fast Transients / Burst) Testi - TS EN 61000-4-4
- Ani Yükselmeler (Surge) Testi - TS EN 61000-4-5
- RF Alanlar Tarafından İletilen Bozulmalar (Conducted Immunity) Testi - TS EN 61000-4-6
- Şebeke Frekansındaki Manyetik Bozulmalar (Magnetics) Testi - TS EN 61000-4-8
- Gerilim Çukurları ve Kısa Kesintiler (Voltage Dips and Interruptions) Testi - TS EN 61000-4-11
-
Bağışıklık Deney Seviyeleri
Ortak Güç Girişler için;
|
EMC Testi |
Bağışıklık Deney Seviyesi |
Performans Kriteri |
|
ESD (Elektrostatik Boşalma) 61000-4-2 |
Temasla: ±4 kV Hava yoluyla: ±8 kV |
B |
|
Radiated Immunity (Işıyan, RF, Elektromanyetik Alan) 61000-4-3 |
3 V/m 80 MHz – 1 GHz %80 AM – 1 kHz |
A |
|
Magnetic Fields (Şebeke Frekansındaki Manyetik Bozulmalar) 61000-4-8 |
1 A/m 50-60 Hz |
A |
|
*Cihazın yapısı ve kullanım alanına göre değişiklik gösterir. |
||
AC Güç Girişler için;
|
EMC Testi |
Bağışıklık Deney Seviyesi |
Performans Kriteri |
|
|
Burst (Elektriksel Hızlı Geçici Rejim / Ani Darbe) 61000-4-4 |
±1 kV 5 kHz |
B |
|
|
Surge (Ani Yükselmeler) 61000-4-5 |
±1 kV Line to Line ±2 kV Line to Ground |
B |
|
|
Conducted Immunity (RF Alanlar Tarafından İletilen Bozulmalar) 61000-4-6 |
3 V/m 0,15 MHz – 80 MHz %80 AM – 1 kHz |
A |
|
|
Voltage dips - Interruptions (Gerilim Çukurları ve Kısa Kesintiler) 61000-4-11 |
%>95 UT=0,5 çevrim %30 UT=25 çevrim |
%>95 UT=250 çevrim |
B-C |
|
|
|
|
|
DC Güç Girişler için;
|
EMC Testi |
Bağışıklık Deney Seviyesi |
Performans Kriteri |
|
Burst (Elektriksel Hızlı Geçici Rejim / Ani Darbe) 61000-4-4 |
±0,5 kV 5 kHz |
B |
|
Surge (Ani Yükselmeler) 61000-4-5 |
±0,5 kV |
B |
|
Conducted Immunity (RF Alanlar Tarafından İletilen Bozulmalar) 61000-4-6 |
3 V/m 0,15 MHz – 80 MHz %80 AM – 1 kHz |
A |
Performans Kriterleri
Performans Kriteri A: Testi gerçekleştirilen cihaz, deney esnasında ve sonrasında hedeflendiği gibi, operatör müdahalesi olmadan çalışmaya devam etmelidir. Cihazın performansında herhangi bir azalmaya veya fonksiyon kaybına izin verilmez.
Performans Kriteri B: Testi gerçekleştirilen cihaz, deney sonrasında hedeflendiği gibi, operatör müdahalesi olmadan çalışmaya devam etmelidir. Cihaz, üretici tarafından belirtilen bir performans seviyesinin altında herhangi bir azalmaya ve fonksiyon kaybına izin verilmez. Ancak deney esnasında performans seviyesinde azalmaya izin verilir.
Performans Kriteri C: Testi gerçekleştirilen cihazın, test esnasında ve sonrasında, geçici bir fonksiyon kaybına izin verilir. Ancak sağlanan fonksiyon kontrol işlemi ile kendi kendine toparlanabilir veya düzeltilebilir olmalıdır.