0312 815 13 25 - 26
lvt@lvt.com.tr
TR / EN
LVT Test Laboratuvarları

EMC Testi Elektromanyetik Uyumluluk TS EN 61000-4-4 / IEC 61000-4-4

EMC Testi Elektromanyetik Uyumluluk TS EN 61000-4-4 / IEC 61000-4-4

EMC Testi Elektromanyetik Uyumluluk TS EN 61000-4-4 / IEC 61000-4-4

EMC Testi Elektromanyetik Uyumluluk TS EN 61000-4-4 / IEC 61000-4-4

TS EN 61000-4-4 / IEC 61000-4-4 Standardı

ELEKTROMANYETİK UYUMLULUK (EMC)- BÖLÜM 4-4: DENEY VE ÖLÇME

TEKNİKLERİ - ELEKTRİKSEL HIZLI GEÇİCİ REJİME / ANÎ DARBEYE KARŞI BAĞIŞIKLIK DENEYLERİ


EMC Testi, bir cihazın veya sistemin elektromanyetik uygunluğunun kontrol edildiği testlerdir. Elektromanyetik Uyumluluk Testinde (EMC Testi), herhangi bir elektrikli ve elektronik cihazın veya sistemin, ortamdaki diğer cihaz veya sistemlerden etkilenmeden ve bunları etkilemeden çalışması hedeflenir. EMC Testi, genel olarak Bağışıklık EMC Testi ve Emisyon EMC Testi olarak iki kategoride incelenir. EMC Testi uygulamalarında kullanılan standartlarda belirtilen test limit değerleri ve test yöntemleri, cihaz veya sistemin özelliklerine göre değişiklik gösterebilmektedir.

TS EN 61000-4-4 / IEC 61000-4-4 standardında belirtilen Elektriksel Hızlı Geçici Rejime / Anî Darbeye Karşı Bağışıklık Deneyi, Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) bağışıklık deneylerinden (EMC Testi) biridir.

TS EN 61000-4-4 / IEC 61000-4-4 standardı tekrarlanan elektriksel hızlı geçici rejimlere maruz kalan elektrik ve elektronik cihazlar için elektromanyetik uyumluluk (EMC) bağışıklık kuralları ve deney metotlarını kapsar.

TS EN 61000-4-4 / IEC 61000-4-4 standardının amacı, elektrikli ve elektronik cihazların güç kaynağı, işaret, kontrol ve toprak uçlarında elektriksel hızlı geçici rejimlere/ anî darbelere maruz kalmaları durumunda çalışma niteliklerinin değerlendirilmesi için ortak ve tekrar edilebilir bir esas oluşturmaktır.

TS EN 61000-4-4 / IEC 61000-4-4 standardında, deney geriliminin dalga şekli, deney seviyelerinin aralığı, deney cihazları, deney cihazlarına ilişkin doğrulama yöntemleri, deney düzeneği, deney yöntemleri tarif edilmiştir.

Elektriksel Hızlı Geçici Rejime / Anî Darbeye Karşı (Electrical Fast Transient /BURST) Bağışıklık Deneyi:

Elektriksel Hızlı Geçici Rejime / Anî Darbeye Karşı Bağışıklık Deneyi (EFT/BURST Testi), elektriksel ve elektronik cihazların anahtarlama geçişlerinden kaynaklanan geçici rejimler gibi bozucu geçici rejim tiplerine maruz kalmaları durumunda (endüktif yüklerin devreye girip çıkması, röle kontaklarının açılıp kapanması vb.) çalışma niteliklerini ve performansını değerlendirmektedir.

Elektriksel hızlı geçici rejim ani darbeler (EFT/B) endüktif yüklerin anahtarlamasıyla üretilir. Bu anahtarlama geçişleri genellikle, hızlı geçici rejim olarak ifade edilir. Elektriksel hızlı geçici rejim genellikle, anahtarlama kontağının veya anahtarlanmış yükün karakteristiklerine bağlı tek bir parametreye sahip değildir.



Elektromanyetik Uyumluluk Deneylerinden (EMC Testi) olan Elektriksel Hızlı Geçici Rejime / Anî Darbeye Karşı Bağışıklık Deneyi (EFT/BURST Testi) test seviyeleri şu şekildedir;


Açık devre çıkış deney gerilimi ve vuruş darbelerinin (impulse) tekrarlama hızı

Seviye

Enerji uçları üzerinde

Giriş/çıkış işareti, veri ve kontrol uçları üzerinde

Gerilim Tepe Değeri

(kV)

Tekrarlama Hızı

(kHz)

Gerilim Tepe Değeri

(kV)

Tekrarlama Hızı

(kHz)

1

0,5

5 veya 100

0,25

5 veya 100

2

1

5 veya 100

0,5

5 veya 100

3

2

5 veya 100

1

5 veya 100

4

4

5 veya 100

2

5 veya 100

x

Özel

Özel

Özel

Özel


“x” serbest bir seviyedir. Bu seviye, cihaz tanıtımında belirtilmelidir.


Elektriksel hızlı geçici rejim ani darbeler (EFT/Burst) Bağışıklık Deneyi gerçekleştirilirken, deneyden geçirilen cihaz bir referans toprak düzlemi üzerine yerleştirilir ve bu düzlemden 0,1 m kalınlığında yalıtkan bir malzemeyle yalıtılır.

Elektriksel hızlı geçici rejim ani darbeler EMC testinde 1 dakika süreyle tekrarlanan her 300 milisaniyede bir darbelerden oluşan bir patlama oluşur. Test esnasında uygulanan darbelerin tekrarlama hızı 5 kHz ise ani darbe süresi 15 ms(±%20), 100 kHz ise ani darbe süresi 0,75 ms(±%20)’dir. Test sırasında hem pozitif hem de negatif polaritede (EFT/Burst) darbeleri enjekte edilir. Bu şartlar altında deneyden geçirilen cihazın düzgün şekilde çalışıp çalışamadığını gözlemlenir.